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Amélioration de l'émission UV du ZnO par des réseaux de nanoparticules d'argent via la résonance de plasmon de surface

Résumé

Des réseaux périodiques de nanoparticules d'argent (NP) ont été fabriqués par la méthode de pulvérisation cathodique magnétron avec des modèles d'alumine anodique pour améliorer l'émission de lumière UV du ZnO par l'effet de résonance de plasmon de surface. Les simulations théoriques indiquaient que la longueur d'onde de résonance de plasmon de surface dépendait du diamètre et de l'espacement des réseaux de NP d'Ag. En introduisant des réseaux de NP d'Ag avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm, l'intensité de photoluminescence de l'émission de bande proche du ZnO a été doublée. La mesure de photoluminescence résolue dans le temps et l'analyse de bande d'énergie indiquaient que l'amélioration de l'émission de lumière UV était attribuée au couplage entre les plasmons de surface dans les réseaux de NP d'Ag et les excitons dans le ZnO avec un taux d'émission spontanée amélioré et des champs électromagnétiques locaux renforcés.

Introduction

Récemment, les plasmons de surface (SPs) ont attiré beaucoup d'attention. En particulier, en tant qu'oscillations collectives d'électrons libres autour de la surface des nanoparticules métalliques (NPs), les plasmons de surface localisés (LSPs) ont été largement appliqués pour améliorer l'émission de lumière dans les dispositifs optoélectroniques, en raison d'absorptions photoniques sélectives et d'un champ électromagnétique local renforcé autour des NPs métalliques [1]. De nombreux efforts d'émissions améliorées par LSP ont été faits dans les dispositifs optoélectroniques ultraviolets (UV) tels que les diodes électroluminescentes [2,3,4] et les photodétecteurs [5,6,7,8,9].

Le ZnO est l'un des matériaux les plus prometteurs pour les dispositifs optoélectroniques UV en raison d'une bande interdite directe large de 3,37 eV et d'une énergie de liaison d'exciton de 60 meV [10]. Cependant, la faible efficacité d'émission de lumière UV bloque son application commerciale. Par conséquent, différents métaux (Ag [11,12,13,14,15,16,17,18], Au [12, 15, 19, 20], Al [21,22,23,24], Cu [25], Ti [26, 27], Ni [27], Pt [28]) avec différentes formes (gratings, sphère, cylindre, prisme triangulaire, prisme tétragonal, nœud papillon) ont été appliqués pour améliorer l'émission UV de bande proche du ZnO. Parmi eux, les NPs d'Ag de forme sphérique composées par méthode hydrothermale étaient les plus largement utilisées en raison d'une fabrication relativement facile et d'une amélioration efficace de l'émission de lumière. Cependant, les NPs d'Ag composées hydrothermalement sont généralement distribuées aléatoirement, et il est difficile de contrôler la distribution des champs électromagnétiques locaux et l'homogénéité du wafer. Par conséquent, la lithographie par faisceau d'électrons (EBL) et la nanolithographie par nanoimpression ont été appliquées pour obtenir des formes et arrangements contrôlables. Néanmoins, les installations coûteuses et la difficulté de fabrication à grande échelle bloquent les applications de l'EBL et de la nanolithographie par nanoimpression [24].

Dans ce travail, les émissions UV améliorées par LSP du ZnO ont été obtenues en introduisant des réseaux périodiques de NPs d'Ag avec des modèles AAO. La taille optimale des réseaux de NPs d'Ag a été obtenue comme un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm avec une amélioration double de la photoluminescence dans l'émission de lumière UV du ZnO. La simulation et les spectres de photoluminescence expérimentaux ont été analysés pour révéler le mécanisme d'amélioration de l'émission de lumière.

Méthodes

Le processus de fabrication est montré à la Fig. 1. Premièrement, des modèles AAO commerciaux ont été transférés sur un substrat de silicium. L'épaisseur des modèles AAO est de 200 nm avec le diamètre et l'espacement montrés dans le Tableau 1. L'échantillon 1 a été fabriqué sans modèles AAO et réseaux de NP d'Ag correspondants. Deuxièmement, une couche d'Ag (35 nm) a été déposée par pulvérisation cathodique magnétron avec une puissance DC de 100 W, une pression de 3 mTorr et un débit d'Ar de 18 sccm. Troisièmement, les modèles AAO ont été retirés par ruban Kapton et les réseaux de NP d'Ag sont restés sur le substrat Si. Finalement, des films Al2O3 (10 nm) et ZnO (70 nm) ont été déposés tour à tour sur les réseaux de NP d'Ag à 150 °C par dépôt de couches atomiques (ALD), avec du triméthylaluminium (TMA), H2O et du diéthylzinc (DEZn) comme sources d'aluminium, d'oxygène et de zinc, respectivement. Les détails de croissance et les caractéristiques des films ZnO peuvent être trouvés dans notre publication précédente [29].

Processus de fabrication : a modèle AAO transféré sur substrat Si, b Ag pulvérisé cathodiquement sur modèle AAO, c réseaux d'argent restants sur substrat Si, d ZnO et Al2O3 sur réseaux de NP d'Ag déposés par dépôt de couches atomiques

Les morphologies des modèles AAO et des réseaux de NP d'Ag ont été caractérisées par microscope électronique à balayage (SEM). La mesure de photoluminescence (PL) a été effectuée avec un laser He-Cd (λ = 325 nm). Les spectres PL résolus dans le temps ont été mesurés avec une longueur d'onde d'excitation à 310 nm à température ambiante pour évaluer le mécanisme d'émission de lumière.

Résultats et Discussion

Avant de conduire les expériences, des calculs numériques par la méthode des différences finies dans le domaine temporel (FDTD) ont été effectués pour analyser l'effet de différents diamètres et espacements des réseaux de NP d'Ag sur la distribution du champ électrique et les longueurs d'onde de résonance de plasmon de surface. Les distributions de champ électrique et les spectres de section efficace de diffusion (Qscat) des réseaux de NP d'Ag ont été simulés sous une source lumineuse à champ total-champ diffusé (TFSF) polarisée le long de l'axe z. Le groupe d'analyse a été placé à l'extérieur de la source optique pour surveiller la section efficace de diffusion de la lumière. Les paramètres optiques de l'Ag ont été sélectionnés comme le modèle CRC depuis la base de données matériaux des solutions Lumerical FDTD. La distribution spatiale du champ électrique simulée dans l'échantillon 4 avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm est montrée à la Fig. 2a. Le champ électromagnétique local autour des NPs d'Ag était amélioré d'environ 3,5 fois, menant à un fort couplage entre les excitons dans les films ZnO et les SPs dans les réseaux de NP d'Ag, et résultant en l'amélioration de l'émission de lumière. La Fig. 2b montre les spectres Qscat normalisés des réseaux de NP d'Ag avec différents diamètres et espacements. Les longueurs d'onde de résonance de plasmon de surface des réseaux de NP d'Ag de l'échantillon 2 à l'échantillon 6 sont 379, 399, 381, 402 et 408 nm, respectivement. En considérant l'émission de bande proche (NBE) des films ZnO autour de 383 nm, le diamètre et l'espacement optimisés des réseaux de NP d'Ag devraient être 40 et 100 nm dans l'échantillon 4. En augmentant la taille des réseaux de NP d'Ag de l'échantillon 2 à 3, ou de l'échantillon 4 à 5, la longueur d'onde de résonance de plasmon de surface fait un décalage vers le rouge sous la même condition d'espacement. En augmentant l'espacement des réseaux de NP d'Ag de l'échantillon 3 à 4, la longueur d'onde de résonance de plasmon de surface fait un décalage vers le bleu sous la même condition de diamètre. Donc, la longueur d'onde de résonance de plasmon de surface des réseaux de NP d'Ag dépend à la fois du diamètre et de l'espacement des réseaux de NP d'Ag.

a Distribution spatiale du champ électrique simulée dans l'échantillon 4 avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm. b Spectres de section efficace de diffusion normalisés des réseaux de NP d'Ag avec différents diamètres et espacements

À la Fig. 3, les modèles AAO transférés et les réseaux de NP d'Ag correspondants sont démontrés dans les images SEM. Comme montré aux Fig. 3a, c, e, g, i, les diamètres moyens des modèles AAO de l'échantillon 2 à l'échantillon 6 sont mesurés à 33, 38, 40, 61 et 71 nm, et les espacements moyens correspondants des modèles AAO sont 63, 61, 100, 101, 124 nm, ce qui est en accord avec les diamètres et espacements conçus dans le Tableau 1. Comme montré aux Fig. 3b, d, f, h, j, les diamètres moyens des réseaux de NP d'Ag de l'échantillon 2 à l'échantillon 6 sont mesurés à 8, 37, 46, 64 et 79 nm, et les espacements moyens correspondants des réseaux de NP d'Ag sont 59, 62, 99, 102, 122 nm. Lorsque le diamètre du modèle AAO est aussi petit que 33 nm, il est difficile de former des réseaux de NP d'Ag périodiques. Quant aux diamètres des modèles AAO variant de 40 à 60 nm dans les échantillons 3, 4 et 5, les diamètres des réseaux de NP d'Ag sont en accord avec ceux des modèles AAO. Lorsque le diamètre du modèle AAO est aussi grand que 71 nm, le diamètre des réseaux de NP d'Ag pulvérisés est légèrement plus grand que celui du modèle AAO, ce qui peut être dû à la dispersion des NP d'Ag lors du retrait du ruban Kapton. Généralement, les espacements des réseaux de NP d'Ag mesurés correspondent bien aux espacements des modèles AAO et sont en accord avec les tailles conçues. Et les réseaux de NP d'Ag périodiques obtenus peuvent être contrôlés avec précision en appliquant les modèles AAO correspondants.

Images SEM des modèles AAO transférés de a échantillon 2, c échantillon 3, e échantillon 4, g échantillon 5, i échantillon 6, et réseaux de NP d'Ag correspondants de b échantillon 2, d échantillon 3, f échantillon 4, h échantillon 5, j échantillon 6

La figure 4 présente les spectres PL des différents échantillons à température ambiante. Comme montré, un pic dominant à 383 nm et un pic faible autour de 520 nm sont obtenus dans les spectres PL, qui sont attribués à l'émission de bande proche (NBE) et à l'émission de niveau profond du ZnO, respectivement. L'émission de niveau profond était attribuée aux lacunes d'oxygène [29]. Le rapport d'intensité entre le pic NBE et le pic de niveau profond a été calculé à 14 dans l'échantillon 1 sans réseaux de NP d'Ag, indiquant que les films ZnO cultivés par ALD sont de bonne qualité. Les intensités de pic NBE avec réseaux de NP d'Ag sont plus élevées que celle sans réseaux de NP d'Ag, ce qui est attribué au couplage entre les excitons dans les films ZnO et les SPs dans les réseaux de NP d'Ag, améliorant les champs électromagnétiques locaux et augmentant le taux d'émission spontanée du ZnO. Parmi les courbes PL des échantillons avec différents diamètres et espacements, l'intensité de pic NBE dans l'échantillon 4 avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm est la plus forte, qui est deux fois plus grande que celle de l'échantillon 1 sans réseaux de NP d'Ag, indiquant que les réseaux de NP d'Ag avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm sont les optimaux pour améliorer l'émission de lumière du ZnO, ce qui est en accord avec les résultats de simulation ci-dessus. De plus, le pic de niveau profond autour de 520 nm était presque le même pour tous les échantillons, menant à un rapport d'intensité élevé de 28 entre le pic NBE et le pic de niveau profond dans l'échantillon 4.

Spectres PL des échantillons avec différents diamètres et espacements à température ambiante

Pour analyser davantage le mécanisme de l'émission UV améliorée en ajoutant des réseaux de NP d'Ag, les décroissances PL résolues dans le temps de l'échantillon 1 sans réseaux de NP d'Ag et de l'échantillon 2 avec réseaux de NP d'Ag ont été effectuées à température ambiante à la Fig. 5. Les courbes de décroissance sont ajustées avec un modèle de décroissance exponentielle pour obtenir les durées de vie de décroissance (τ) avec l'équation \(I\left(t\right)={I}_{0}\mathrm{exp}(-t/\tau )\). Les durées de vie de décroissance de l'échantillon 1 sans réseaux de NP d'Ag et de l'échantillon 2 avec réseaux de NP d'Ag sont déduites à 1,49 et 1,24 ns, respectivement. La durée de vie de décroissance réduite de 1,49 à 1,24 ns indique un processus de décroissance plus rapide dans le ZnO avec réseaux de NP d'Ag, ce qui peut être attribué au taux d'émission spontanée amélioré en ajoutant des réseaux de NP d'Ag, améliorant le couplage entre les SPs dans les réseaux de NP d'Ag et les excitons dans le ZnO.

Décroissances PL résolues dans le temps de l'échantillon 1 sans réseaux de NP d'Ag et de l'échantillon 2 avec réseaux de NP d'Ag à 380 nm

Pour expliquer davantage l'amélioration de l'émission de lumière UV, le diagramme de bande d'énergie de la structure Ag/Al2O3/ZnO est montré à la Fig. 6. La fonction de travail de l'Ag est de 4,26 eV et l'affinité électronique du ZnO est de 4,35 eV, menant à une courbure vers le bas de la bande de conduction du ZnO près de l'interface Al2O3/ZnO. La couche Al2O3 de 10 nm a été appliquée pour bloquer le processus de transfert d'énergie non radiatif de type Fӧrster du semi-conducteur vers le métal [28]. En raison des plasmons de surface générés entre le métal et le milieu diélectrique à l'interface Ag/Al2O3, le champ électrique local près des réseaux de NP d'Ag est amélioré, augmentant la densité d'énergie d'excitation de la lumière incidente et le nombre de photons absorbés dans la distance de couplage. Simultanément, le champ électrique local amélioré favorise également le couplage des plasmons de surface des NPs d'Ag avec les excitons du ZnO, ce qui améliorera le taux d'émission spontanée et améliorera l'intensité de photoluminescence du ZnO. De plus, il peut y avoir un autre processus où les électrons dans les réseaux de NP d'Ag sautent au niveau SPR et puis se transfèrent vers la bande de conduction du ZnO [28]. Et la densité d'électrons accrue dans la bande de conduction améliorera également l'émission NBE du ZnO.

Diagramme schématique de bande d'énergie de la structure Ag/Al2O3/ZnO

Conclusions

En résumé, des réseaux périodiques de NP d'Ag ont été fabriqués par la méthode de pulvérisation cathodique magnétron avec des modèles AAO pour améliorer l'émission de lumière UV du ZnO par l'effet de résonance de plasmon de surface. Les simulations théoriques indiquaient que la longueur d'onde de résonance de plasmon de surface dépendait à la fois du diamètre et de l'espacement des réseaux de NP d'Ag. En introduisant des réseaux de NP d'Ag avec un diamètre de 40 nm et un espacement de 100 nm, l'intensité de photoluminescence de l'émission de bande proche du ZnO a été doublée. La mesure de photoluminescence résolue dans le temps et l'analyse de bande d'énergie ont révélé que l'amélioration de l'émission de lumière UV était attribuée au couplage entre les SPs dans les réseaux de NP d'Ag et les excitons dans le ZnO avec le taux d'émission spontanée amélioré et les champs électromagnétiques locaux renforcés.

Disponibilité des Données et Matériaux

Les données d'expérience soutenant la conclusion de ce manuscrit ont été données dans ce manuscrit. Toutes les données sont pleinement disponibles sans restriction.

Abréviations

NP :
Nanoparticule
AAO :
Alumine anodique
SPs :
Plasmons de surface
LSPs :
Plasmons de surface localisés
UV :
Ultraviolet
ALD :
Dépôt de couches atomiques
SEM :
Microscope électronique à balayage
PL :
Photoluminescence
FDTD :
Différences finies dans le domaine temporel

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