Ingénierie de la bande interdite dans les super-réseaux CdO/MgO à courte période : aperçus expérimentaux et théoriques
Résumé
Les tendances dans le comportement des bandes interdites dans les super-réseaux (SR) à courte période composés de couches de CdO et MgO ont été analysées expérimentalement et théoriquement pour plusieurs épaisseurs de sous-couches de CdO. Les propriétés optiques des SR ont été étudiées par des mesures de transmittance à température ambiante dans la gamme de longueurs d'onde 200–700 nm. La bande interdite directe des SR {CdO/MgO} a été accordée de 2,6 à 6 eV en faisant varier l'épaisseur du CdO de 1 à 12 monocouches tout en maintenant la même épaisseur de couche MgO de 4 monocouches. Les valeurs obtenues des bandes interdites directe et indirecte sont supérieures à celles calculées théoriquement par une méthode ab initio, mais suivent la même tendance. Les mesures par rayons X ont confirmé la présence d'une structure de sel gemme dans les SR. Deux structures orientées (111 et 100) cultivées sur des substrats de saphir orientés c et r ont été obtenues. Les paramètres de réseau mesurés augmentent avec l'épaisseur de la couche de CdO, et les données expérimentales sont en accord avec les résultats calculés. Ce nouveau type de structure de SR pourrait convenir pour l'optoélectronique visible, UV et UV profond, d'autant que la bande d'énergie peut être contrôlée avec précision sur une large gamme en modulant l'épaisseur des sous-couches dans les super-réseaux.
Introduction
Les semi-conducteurs à large bande interdite comme les oxydes et nitrures représentent une famille de semi-conducteurs d'importance cruciale pour l'optoélectronique moderne, utilisés dans les diodes électroluminescentes à courte longueur d'onde, les diodes laser et les détecteurs optiques, ainsi que dans les dispositifs électroniques de haute puissance, haute température et haute fréquence tels que les transistors à effet de champ [1]. La bande d'énergie est un facteur clé dans de nombreux domaines scientifiques, tels que le photovoltaïque et l'optoélectronique. Les alliages ternaires peuvent être obtenus sous forme de cristaux aléatoires ou de quasi-cristaux super-réseaux à courte période [2-5]. Dans le cas des cristaux aléatoires, certains systèmes présentent un problème significatif pour obtenir des matériaux sur toute la gamme de composition sans séparation de phase et de concentration. Ce type de problème a été rapporté dans les systèmes d'oxydes ZnMgO et ZnCdO [6], notamment parce que le ZnO cristallise généralement dans une structure wurtzite, alors que le CdO et le MgO cristallisent dans une structure cubique de sel gemme [7]. Par conséquent, obtenir des alliages homogènes sans ségrégation de phase cristalline dans la gamme de composition intermédiaire s'est avéré un défi pour ces matériaux. Cela ne concerne pas seulement les oxydes ; un problème similaire a également été rapporté, par exemple, dans le cas de l'InGaN [8].
Le CdO avec une structure cristalline de sel gemme est l'un des oxydes conducteurs transparents (TCO). L'un des principaux inconvénients du CdO est sa bande interdite directe intrinsèque relativement petite de seulement 2,2 eV. Même si l'effet Burstein-Moss causé par les porteurs libres dans la bande de conduction peut décaler le bord d'absorption à environ 3 eV dans le CdO le plus fortement dopé [9, 10], cela reste insuffisant pour les applications photovoltaïques utilisant la partie UV du spectre solaire. Ainsi, l'élargissement de la bande interdite du CdO améliorera les perspectives pour les technologies de cellules solaires. La longueur d'onde de coupure des détecteurs UV « solar-blind » doit être inférieure à 280 nm, correspondant à une valeur de bande interdite de 4,5 eV [11], bien supérieure à celle du CdO pur et du ZnO (3,37 eV). Par conséquent, l'ouverture de la bande interdite du CdO est également cruciale pour ce domaine.
L'utilisation de super-réseaux permet un contrôle beaucoup plus précis de la composition, et de bons alliages ternaires sur une large gamme de compositions peuvent être obtenus dans de nombreux systèmes semi-conducteurs [2, 5, 12, 13]. L'ingénierie de la bande interdite, cruciale pour la conception de dispositifs optoélectroniques, peut être réalisée dans les SR en faisant varier les épaisseurs de couches [3, 14]. Une bande interdite directe de 2,5 eV a été rapportée pour le CdO, tandis que pour le MgO, une bande d'énergie de 7,8 eV a été observée dans une structure de sel gemme [15]. Théoriquement, la structure cubique de sel gemme est stable sur toutes les compositions (Mg,Cd)O, comme attendu d'après les préférences des oxydes binaires [16]. Habituellement, cependant, les couches de CdO sont cultivées à des températures bien inférieures à celles du MgO ; il est donc difficile d'obtenir des cristaux mixtes homogènes sur toute la gamme de composition. C'est pourquoi le nombre de rapports sur les alliages CdMgO est très limité, et l'augmentation de la quantité de Cd peut entraîner la présence de deux compositions, comme décrit dans le cas de CdMgO cultivé par dépôt chimique en phase vapeur métallorganique (MOCVD) [17]. Des films minces d'alliage CdMgO avec une concentration totale en Mg aussi élevée que 44 % ont été obtenus par pulvérisation magnétron [18]. Dans le cas de couches obtenues par dépôt laser pulsé, la bande d'énergie du CdMgO a été décalée à 3,4 eV [19], tandis que dans des films polycristallins de CdMgO dopés à l'In, la valeur maximale de la bande d'énergie a été rapportée à environ 5 eV [20]. À l'autre extrémité de la gamme de composition, des nano-structures de MgO non dopées et dopées à 1 %, 2 % et 3 % en Cd ont été cultivées par la méthode SILAR (successive ionic layer adsorption and reaction) [21]. Sur toute la gamme de composition, seules des nanoparticules ont été obtenues, mais encore dans une gamme de teneur en Mg de 0,34 ≤ x ≤ 0,84, la coexistence de deux phases de CdMgO riches en Cd et riches en Mg est rapportée [22].
Les travaux théoriques les plus récents sont basés sur des calculs de théorie de la fonctionnelle de la densité et portent principalement sur les propriétés des composés binaires CdO et MgO, incluant l'investigation de propriétés structurales [23-25], électroniques [26], spectroscopiques [27], optiques [28-30], magnétiques [31-35] ou d'autres propriétés de composés dopés [36-38]. Gorczyca et al. [13, 14] ont mené des investigations d'ingénierie de bande interdite sur les SR ZnO/MgO. Aucune investigation théorique de super-réseaux CdO/MgO n'a été rapportée dans la littérature, ce qui nous a motivés à les étudier.
Dans notre travail précédent, nous avons démontré la possibilité d'obtenir des SR {CdO/MgO} par épitaxie par faisceau moléculaire (MBE) [39]. Dans cette étude, nous explorons expérimentalement et théoriquement des méthodes pour moduler la transparence des TCO à base de CdO en alliant ce matériau avec le MgO, un oxyde métallique à plus large bande interdite ayant la même structure cristalline (sel gemme). Nous avons cultivé des quasi-alliages de super-réseau {CdO/MgO} par MBE sur toute la gamme de composition, et montré que la bande d'énergie peut être augmentée de 2,2 à 6 eV en modifiant l'épaisseur de la sous-couche CdO dans ces super-réseaux.
Méthodes
Des super-réseaux {CdO/MgO} à courte période ont été cultivés par MBE assisté par plasma (Compact 21 Riber) sur des substrats de saphir différemment orientés : sur c- et r-Al2O3. Avant la croissance, les substrats Al2O3 ont été nettoyés chimiquement et dégazés dans une chambre tampon à 700 °C. Les substrats ont ensuite été transférés dans une chambre de croissance et recuits à 700 °C dans l'oxygène (débit 3 ml/min). Toutes les structures multicouches ont été cultivées à 360 °C. De minces couches de CdO et MgO ont été déposées séquentiellement, et leurs épaisseurs ont été estimées sur la base des conditions de croissance (le nombre de périodes dans les échantillons individuels a été calculé pour obtenir la même épaisseur finale des échantillons). Dans la série d'échantillons présentée, l'épaisseur des sous-couches MgO est fixée, et nous faisons varier l'épaisseur des couches CdO de ~1 à ~12 monocouches (ML).
Un diffractomètre Panalytical X'Pert Pro MRD a été utilisé pour effectuer l'analyse de diffraction des rayons X (DRX) des échantillons. L'appareil est équipé d'un monochromateur hybride à deux rebonds Ge (220), d'un analyseur à trois rebonds Ge (220) et de deux détecteurs : proportionnel et Pixcel. Deux types de mesures ont été effectués : des balayages θ/2θ à basse résolution dans une large gamme angulaire, et des courbes de rocking, des balayages 2/ω et des cartes de l'espace réciproque DRX à haute résolution.
Les spectres de transmittance optique ont été obtenus à température ambiante à l'aide d'un spectrophotomètre Varian Cary 5000, dans une gamme de 200 à 700 nm. Une technique de mesure à deux canaux a été utilisée pour les mesures de transmittance du film étudié. Les échantillons SR ont été placés dans le canal de mesure du spectrophotomètre, et le substrat (saphir orienté r ou c) a été placé dans le canal de comparaison.
Résultats et discussion
Étude expérimentale
Des structures de super-réseau avec 4 ML de MgO et une épaisseur de sous-réseau CdO variant de 1 à 12 ML ont été analysées. La Fig. 1a, b montre les balayages DRX à gamme complète pour des SR {CdO/MgO} sélectionnés. Les motifs θ/2θ indiquaient deux orientations cristallographiques du substrat : [01-12] et [0001] (orientation r et c). Nous avons également enregistré une phase cubique des super-réseaux {CdO/MgO}. Pour les échantillons cultivés sur substrat saphir plan r, nous avons obtenu une orientation [100] des SR {CdO/MgO} et pour les structures cultivées sur substrat saphir plan c, nous avons obtenu une orientation [111] des SR {CdO/MgO}. Nous n'observons pas d'autres phases cristallographiques de matériaux {CdO/MgO}.
Balayages Theta-2Theta DRX des super-réseaux {CdO(12,5 ML)/MgO(4 ML)} sur a r-Al2O3 et b c-Al2O3.
Pour une analyse approfondie des SR {CdO/MgO}, des balayages 2 Theta-Omega (2θ/ω) en mode haute résolution ont été mesurés. Pour les structures SR cultivées sur saphir r, nous avons étudié la réflexion DRX 200{CdO/MgO} (Fig. 2a) et pour les structures SR cultivées sur saphir c, nous avons étudié la réflexion DRX 111 {CdO/MgO} (Fig. 2b). Les traits pleins sur la Fig. 2 montrent les résultats de mesure. Les pics satellites liés au super-réseau sont clairement observés dans les deux orientations, confirmant la bonne périodicité et la douceur des interfaces. Les pics d'ordre zéro décrivant les paramètres moyens des SR sont marqués S0. La position du pic S0 dépend de l'épaisseur des sous-couches CdO. Les pics satellites (S1, S2) sont bien définis dans les deux échantillons. Les balayages 2θ/ω DRX montrent que le pic principal provenant du SR (pic d'ordre S0) se déplace vers des angles plus petits avec l'augmentation de la concentration en Cd. Cela indique que les paramètres de réseau augmentent avec une teneur plus élevée en Cd.
2Theta-Omega de 200 {CdO/MgO} sur r-Al2O3 (a) et 111 {CdO/MgO} sur c-Al2O3 (b) pics DRX de la série de SR avec différentes épaisseurs de couches CdO. Traits pleins : résultats des balayages 2θ/ω DRX mesurés ; traits pointillés : simulations des balayages 2θ/ω DRX. En légende, nous indiquons la quantité de monocouches CdO (ML).
Pour chaque balayage 2θ/ω mesuré, nous calculons les profils 2θ/ω en utilisant une procédure d'ajustement décrite dans [40]. Sur la Fig. 2, nous montrons les simulations des balayages 2θ/ω DRX par des traits pointillés. La procédure de simulation est basée sur la théorie dynamique de la diffraction des rayons X décrite par Takagi et Taupin [41-43]. Nous utilisons le logiciel X'Pert Epitaxy fourni par la société Malvern Panalytical pour simuler nos courbes 2θ/ω. Les résultats obtenus à partir des données simulées sont rassemblés dans le Tableau 1.
Le paramètre le plus important que nous obtenons des simulations DRX est l'épaisseur des couches individuelles MgO et CdO dans la structure SR (Tableau 1). Il est clairement visible que l'épaisseur de la couche MgO est égale à 2 nm pour chaque échantillon, comme supposé lors du processus de croissance MBE. Pour les épaisseurs de couches CdO, nous observons certaines différences avec les paramètres supposés. Les données présentes dans le Tableau 1 montrent l'épaisseur recalculée des couches individuelles CdO et MgO dans les SR (à partir des simulations DRX) exprimée en nombre de ML.
Les films quasi-alliages {CdO/MgO} ont été analysés avec un spectromètre UV-visible-infrarouge pour étudier leurs bandes d'énergie. La Fig. 3 montre les spectres de transmittance mesurés à température ambiante. Le seuil de transmission se décale continuellement vers des longueurs d'onde plus courtes à mesure que l'épaisseur de la sous-couche CdO diminue. Les chutes de transmittance dans la région NIR peuvent être liées à l'absorption par porteurs libres et à la réflexion plasma [44]. Comme nous le savons, le CdO est hautement conducteur, contrairement au MgO. Lorsque l'épaisseur relative du CdO par rapport au MgO augmente, la résistivité des échantillons augmente très probablement en raison de la plus grande épaisseur des sous-couches CdO. Fait intéressant, la chute de transmittance dépend de l'orientation des SR, ce qui nécessite des recherches supplémentaires. Les valeurs de bande d'énergie (Eg) des SR sont déduites en extrapolant le graphique de α2 versus hν dans le cas de transitions directes (Fig. 4a, b) et celui de α1/2 versus hν dans le cas de transitions indirectes, où α est le coefficient d'absorption et ν la fréquence du photon, selon le travail de Tauc [45]. Dans les échantillons avec une épaisseur de CdO plus élevée, et donc une concentration relative de Cd plus élevée dans l'alliage CdMgO, nous pouvons extraire deux bandes interdites indirectes, avec deux régions linéaires comme montré en Fig. 4c, d. La Fig. 4 montre que les bandes interdites du CdMgO diminuent avec l'épaisseur du CdO. Les mesures de transmission optique démontrent que la bande d'énergie directe des quasi-alliages {CdO/MgO} peut être variée sur une gamme de 2,6 à 6 eV.
Transmittance des films de SR {CdO/MgO} sur (a) r-saphir et (b) c-saphir.
Graphiques (α hν)2 et (αhν)1/2 en fonction de l'énergie du photon (hν) pour les films de SR {CdO/MgO} sur c- ou r-saphir.
Méthode de calcul
Le Vienna ab Initio Simulation Package (VASP), basé sur le formalisme quantique de la théorie de la fonctionnelle de la densité, suivant des investigations antérieures, a été utilisé dans tous les calculs rapportés ici [46-48]. L'optimisation des positions ioniques a été réalisée en deux étapes, en utilisant différentes fonctionnelles d'approximation du gradient généralisé (GGA) pour l'énergie d'échange-corrélation. Un ensemble de base d'ondes planes standard, avec une coupure d'énergie de 605 eV, a été utilisé. La grille Monkhorst-Pack (5 × 5 × 5) a été utilisée pour une intégration efficace dans l'espace k [49]. Des pseudopotentiels Projector-Augmented Wave (PAW) avec les fonctionnelles d'échange-corrélation Perdew, Burke, et Ernzerhof (PBE) ont été utilisés pour le traitement des atomes Cd, Mg et O [50-52]. Une boucle auto-cohérente électronique (SCF) a été terminée pour un changement d'énergie relatif inférieur à 10–7. Les paramètres de réseau ab initio pour les oxydes massifs étaient les suivants : aCdO = 4,783 Å, aMgO = 4,236 Å. Ces paramètres de réseau sont en bon accord avec les valeurs déterminées par les mesures aux rayons X : aCdO = 4,695 Å, aMgO = 4,21 Å [15, 53]. Les positions des atomes ont été relaxées jusqu'à ce que l'amplitude de la force agissant sur un atome unique soit inférieure à 0,005 eV/Å.
La fonctionnelle de densité PBE fournit des valeurs incorrectes pour les bandes interdites des semi-conducteurs. Plusieurs méthodes ont été utilisées pour remédier à cette déficience, telles que l'approximation (GW) [54], les fonctionnelles hybrides utilisant la correction Hartree-Fock [55], ou l'approximation généralisée du gradient à demi-occupation (GGA-1/2) [56]. Dans les calculs rapportés, nous avons utilisé ce dernier schéma le plus efficace, proposé par Ferreira et al. [56]. Les effets spin-orbite ont été négligés dans ces calculs, puisque les états de valence hautement énergétiques et les états de conduction faiblement énergétiques conduisent à un faible éclatement (de l'ordre de 10 meV). Les bandes interdites calculées du MgO et CdO massifs étaient EΓ(MgO) = 7,1 eV et EΓ,L(CdO) = 2,55, 1,23 eV, respectivement. Ainsi, un accord satisfaisant avec les bandes interdites expérimentales à basse température a été obtenu : Eg(MgO) = 7,83 eV [15] et EΓ, L(CdO) = ~ 2,5, 0,8–1,12 eV [57, 58]. Cela complète l'étape susmentionnée où les résultats finaux sont obtenus par application de la méthode de correction GGA-1/2 modifiée à des structures dans lesquelles les positions des atomes et une taille de cellule périodique ont été déterminées dans la première étape en utilisant l'approximation PBE. Les structures de bandes du MgO et CdO massifs pour les approximations PBE et GGA-1/2 sont montrées en Fig. 5. On voit que PBE sous-estime la valeur de la bande d'énergie, tandis que dans GGA-1/2 elle est calculée correctement. Après correction, l'énergie de Fermi se situait entre le maximum de la bande de valence (VBM) et le minimum de la bande de conduction (CBM). La bande interdite du CdO est cohérente avec les mesures expérimentales des Réf. [58] et [57], tandis que la bande d'énergie du MgO est cohérente avec la Réf. [15]. La localisation du niveau de Fermi dans le CdO est la même que dans un modèle théorique basé sur l'approche GW [59].
(Couleur en ligne) Structure de bande obtenue par VASP pour la fonctionnelle d'échange-corrélation PBE (bleu) et correction GGA-1/2 (rouge) pour le MgO (gauche) et le CdO (droite).
Dans l'analyse théorique de puits quantiques multiples cohérents CdO/MgO, nous avons utilisé des structures cultivées dans la direction [001]. Les couches de CdO et MgO étaient entièrement contraintes, c'est-à-dire qu'il y avait des constantes de réseau communes uniques pour toute la structure, et nous avons supposé qu'il n'y avait pas de dislocations ou défauts aux interfaces entre les deux matériaux. La structure a été relaxée en utilisant un algorithme de gradient conjugué (CG) pour la minimisation des forces. L'énergie de Fermi était commune pour toute la structure, et comme elle était proche du CBM, la concentration de porteurs a été fixée à 1020 cm−3. Nous avons calculé des constantes de réseau communes pour des structures composées de 4 ML de MgO et de couches CdO allant de 2 à 12 ML. Pour ces structures, nous avons calculé les bandes d'énergie entre différents points de la zone de Brillouin en utilisant la méthode de correction GGA-1/2. La Fig. 6 montre les différences entre le minimum de la bande de conduction et les maxima dans la bande de valence aux points X, L, et un maximum situé près du point X mais légèrement décalé vers le point X, que nous avons marqué ~ X.
Structures de bandes calculées des SR cubiques {CdO/MgO} pour divers nombres de monocouches CdO et quatre monocouches de MgO, en utilisant la méthode GGA-1/2.
Il est évident que la contrainte affecte la structure de bande calculée ; sur la Fig. 7, nous traçons les conditions de contrainte réalisées dans nos structures. D'après les graphiques, il ressort que les couches de CdO sont comprimées dans les plans de croissance par les couches de MgO, ce qui cause l'étirement du matériau dans la direction de croissance (Fig. 7a). D'autre part, nous attendons une contrainte de traction dans le plan et une contrainte de compression hors plan pour la couche de MgO (Fig. 7b).
Conditions de contrainte calculées pour 4 ML de MgO et divers nombres de monocouches CdO : (a) contrainte dans le plan (epsilon xx) et hors plan (epsilon zz) dans le CdO ; (b) contrainte dans le plan et hors plan dans le MgO.
Comparaison de l'expérience et de la théorie
En Fig. 8, les énergies de bande interdite obtenues en fonction de l'épaisseur de la couche CdO sont comparées aux résultats de nos calculs. Nos points expérimentaux sont marqués comme pleins pour l'orientation 100 et ouverts pour l'orientation 111. Les traits pleins noirs, rouges et bleus représentent les valeurs théoriques obtenues des bandes interdites directe et indirecte aux points Γ, X et ~ M. Les données expérimentales sont quelque peu dispersées, mais reflètent la tendance théorique. Les valeurs expérimentales des bandes d'énergie sont plus élevées que celles prédites théoriquement. Il convient de noter que dans le cas de couches à base de CdO, avec une région riche en Cd, la concentration électronique est généralement élevée [57, 60]. Il est bien connu qu'une augmentation de la densité de porteurs conduit au remplissage d'états dans la bande, décalant ainsi l'absorption vers des énergies plus élevées. Cet effet a été découvert indépendamment par Moss [61] et Burstein [62] en 1954 et est appelé le décalage Burstein-Moss (BMS). Par conséquent, dans les matériaux à base de CdO, la renormalisation de la bande interdite doit être considérée jusqu'à une densité électronique d'environ 9 × 1018 cm−3. Nous nous attendons à ce que le BMS soit plus élevé pour les structures SR avec une plus grande épaisseur de couches CdO. De même, la contrainte dans les couches SR peut influencer les énergies de bande interdite mesurées ; comme nous le savons, dans le cas de sous-couches MgO et CdO plus épaisses, la structure peut être partiellement relaxée, alors que les calculs ont été faits pour des SR entièrement contraints, c'est-à-dire que des constantes de réseau uniques ont été utilisées pour toute la structure, et nous avons supposé qu'il n'y avait pas de dislocations ou défauts aux interfaces entre les deux matériaux de sous-réseau. L'énergie de Fermi était commune pour toute la structure et se situait au milieu de la bande d'énergie, et donc la concentration de porteurs libres a été fixée à zéro. Les valeurs calculées du décalage B-M dans le CdO pur pour un niveau de concentration électronique de 2 × 1020 cm−3 sont d'environ 300 meV, et donc pour les structures riches en Cd, nous devrions soustraire certaines valeurs (< 300 meV) de la bande d'énergie mesurée.
Comparaison des bandes interdites théoriques (traits pleins) aux points Γ, X et un maximum proche du point M et données expérimentales (symboles) obtenues à partir des données de transmittance.
Dans le cas de la diffraction des rayons X, nous avons également soustrait les constantes de réseau moyennes pour les SR mesurés. Les constantes de réseau mesurées augmentent avec l'épaisseur de la sous-couche CdO. Les données obtenues sont comparées aux calculs théoriques en Fig. 9. Les valeurs expérimentales sont vues comme plus petites que les valeurs calculées, mais les données expérimentales reproduisent la tendance théorique.
Comparaison de la constante de réseau théorique (trait plein) et données expérimentales (symboles : ouverts pour échantillons cultivés dans la direction 111, pleins pour échantillons cultivés dans la direction 001) pour la série de SR avec différentes épaisseurs de sous-couches CdO.
Conclusions
En conclusion, des quasi-alliages {CdO/MgO} ont été synthétisés par la méthode MBE dans deux orientations cristallographiques. Leurs propriétés de bande d'énergie et de constante de réseau ont été étudiées expérimentalement et calculées théoriquement. La bande d'énergie des quasi-alliages {CdO/MgO} peut être modulée continûment sur une large gamme de 2,6 à 6 eV en modifiant l'épaisseur des sous-réseaux CdO. Correspondamment, les constantes de réseau moyennes mesurées pour {CdO/MgO} varient de 4,23 à 4,61 Å alors que l'épaisseur du MgO était maintenue constante et l'épaisseur du CdO augmentée de 1 à 12 ML. Les valeurs obtenues de la constante de réseau sont en bon accord avec les calculs théoriques, mais sont quelque peu plus petites que les valeurs calculées, alors que les bandes d'énergie mesurées sont plus élevées que celles calculées ab initio pour des structures entièrement contraintes. Les résultats montrent que la bande d'énergie du CdO peut être accordée à des valeurs plus élevées en utilisant des quasi-alliages {CdO/MgO}, et qu'il est possible d'ingénier la bande d'énergie sur une large gamme. Ce travail a montré que les hétérostructures {CdO/MgO} peuvent être utiles pour développer de nouveaux dispositifs optoélectroniques, tels que des détecteurs pour les régions visible, UV A, UV B et UV C.
Disponibilité des données et matériaux
Non applicable.
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