La NASA fait progresser la thermographie flash : END plus rapide et plus profonde avec techniques transitoires et verrouillées

Des chercheurs du centre Johnson de la NASA ont amélioré leurs capacités de thermographie flash en incorporant la thermographie transitoire et la thermographie verrouillée (lock-in) à leur technologie d'évaluation non destructive (END) par thermographie flash. Cette technologie d'END identifie les défauts dans les matériaux utilisés dans les avions, les drones et les bâtiments.

En ajoutant la méthode de thermographie transitoire, qui détecte les défauts sur les pièces plus épaisses plus rapidement que les autres méthodes, et la méthode de thermographie verrouillée, qui utilise un cycle de puissance sinusoïdal pour fournir une meilleure résolution des défauts, la suite technologique de thermographie flash END a étendu son applicabilité à d'autres techniques couramment utilisées de thermographie infrarouge.

Lors de l'utilisation des méthodes transitoires et verrouillées pour évaluer les matériaux, les variations de la diffusivité thermique du matériau se manifestent sous forme d'anomalies dans l'image infrarouge (IR) de la surface de test. Les deux méthodes sont spécifiquement utilisées pour analyser des matériaux plus épais que ce qui est possible par la thermographie flash seule. Le post-traitement de ces données brutes de caméra IR fournit une analyse détaillée de la taille et de la caractérisation des anomalies.

Cette technologie inclut un logiciel offrant des mesures hautement précises.

Les profils de contraste de pic et de temps de contraste de pic générés par cet outil fournissent une interprétation quantitative des images, incluant des informations détaillées sur la taille et la forme des anomalies. Les profils d'énergie de persistance et de temps de persistance fournissent des données hautement sensibles pour les anomalies détectées. Les mesures de contraste de pic, temps de pic, temps de persistance et énergie de persistance permettent également de surveiller la croissance des défauts et l'analyse de la réponse du signal à la taille des défauts.

Cette technologie fournit une détection et une caractérisation END plus complètes, détaillées et précises des défauts sous-superficiels dans les matériaux composites non métalliques que les méthodes actuelles. Cette suite logicielle complète normalise et calibre les données, ce qui fournit des mesures plus stables et réduit les erreurs dues à la variabilité de l'opérateur et de la caméra.

La NASA recherche activement des licenciés pour commercialiser cette technologie. Veuillez contacter le Concierge des licences de la NASA à Cette adresse e-mail est protégée contre les robots spammeurs. Vous devez activer JavaScript pour la visualiser. ou appelez-nous au 202-358-7432 pour entamer des discussions de licence. Suivez ce lien ici  pour plus d'informations.