Renesas Lance un MCU Automobile 28 nm avec Fonctionnalités Sécurité Assistées par Virtualisation

Renesas Electronics a annoncé la vérification réussie d'une puce de test automobile de pointe, ouvrant la voie aux microcontrôleurs flash de prochaine génération construits sur un processus 28 nm basse consommation.

Architecture Prototype : 4 Cœurs 600 MHz Lock-Step, 16 Mo Flash

Le microcontrôleur prototype possède quatre cœurs 600 MHz en configuration lock-step, une généreuse mémoire flash de 16 Mo, et une suite de fonctions assistées par virtualisation permettant à multiples composants logiciels de coexister sur une seule puce sans interférence. Cette capacité répond aux exigences strictes de l'ISO 26262 ASIL D, le plus haut niveau d'intégrité sécurité automobile.

Support ASIL D : BIST Avancé et Réseau Gigabit

Pour supporter la conformité ASIL D, la puce incorpore un système advanced built-in self-test (BIST), incluant un standby-resume BIST (SR-BIST) opérant pendant les cycles de mise hors tension pour détecter les fautes. Fonctionnalités réseau améliorées, telles qu'une interface Gigabit Ethernet, fournissent transfert données haute vitesse pour charges utiles capteurs.

Présentation à l'ISSCC 2019

Renesas présentera les résultats de test dans la session intitulée « A 28 nm 600 MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next-Generation Automotive Architecture Complying with ISO 26262 ASIL D » à l'International Solid-State Circuits Conference le 18 février 2019.

S'appuyant sur cette technologie validée, Renesas prévoit d'accélérer le développement de nouveaux MCU flash 28 nm, renforçant son engagement pour véhicules autonomes eco-friendly et une expérience de conduite plus sûre, plus sécurisée.